產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心光電探測器科研級CCD相機科研級CCD相機
產(chǎn)品簡介
IVAC系列科研級CCD相機更寬的單次攝譜范圍（30mm 寬像面尺寸），IVAC系列科研級CCD相機低暗電流深耗盡的暗電流，比背感光深耗盡低10倍，單片窗口設計，提升透光度；USB 2.0接口
科研級CCD相機
IVAC系列
• 真空、深度制冷（-60℃@25℃環(huán)境溫度）
• 峰值量子效率.高可達95%@780 nm
• 更寬的單次攝譜范圍（30mm 寬像面尺寸）
• 高分辨率；
• 低暗電流深耗盡的暗電流，比背感光深耗盡低10倍
• 單片窗口設計，提升透光度；USB 2.0接口
IDus可見光系列
• 低暗電流深耗盡的暗電流，比背感光深耗盡低10倍
• 峰值量子效率.高可達95%@780 nm
• 15μm像素尺寸，特別適合于高分辨率光譜儀
• 更寬的單次攝譜范圍（30mm 寬像面尺寸）
• 深度制冷可達 -95℃；
• 外形緊湊；USB 2.0接口
iDus近紅外系列
• 0.6到1.7µm波長范圍
• 峰值量子效率大于85%
• TE制冷溫度可高達 -90℃
• 單窗口設計，提升光通量；
• 25µm 像素尺寸，特別適合于高分辨率NIR光譜儀
• USB 2.0接口；小曝光時間 1.4µs
科研級CCD
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
產(chǎn)品分類
相關文章
上一個：
返回列表